Caracterización Morfológica de superficies por microscopía de fuerza atómica (Servicio interno CSIC)

Realización del estudio de la morfología superficial de muestras mediante un microscopio de fuerza atómica (AFM). Se proporcionan los parametros que caracterizan a la superficie como rugosidad (rms), desviaciones máximas etc. También se proporcionan imágenes 2D y 3D de las partes estudiadas de las muestras.

Prestaciones
  • Microscopía de barrido: AFM contacto
  • Microscopía de barrido: Tapping AFM
  • Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Condiciones del servicio:

A consultar.

Responsable:
Enrique Montero Calero